Перейти на главную страницу
На правах рукописи
Автореферат
диссертации на соискание ученой степени
кандидата физико-математических наук
Самара 2006
Научный руководитель: доктор физико-математических наук, профессор
МИТЛИНА Людмила Александровна
Официальные оппоненты: доктор технических наук, профессор
МУРАТОВ Владимир Сергеевич
кандидат физико-математических наук, доцент
АГАПОВА Надежда Николаевна
Ведущая организация: Самарский государственный университет, кафедра
“Электроника твердого тела”
Защита состоится “__”_________2006г., в _____ часов на заседании диссертационного совета Д 212.217.01 при ГОУВПО Самарском государственном техническом университете по адресу: 443100, Самара, ул. Молодогвардейская, 244, Главный корпус, ауд. 500.
С диссертацией можно ознакомиться в библиотеке Самарского государственного технического университета.
Автореферат разослан “___” ___________ 2006 г.
Ученый секретарь диссертационного совета А.М.Штеренберг
Актуальность темы. Темпы прогресса многих отраслей науки и техники непосредственно зависят от достижений радиоэлектроники и соответственно от повышения качества радиотехнических материалов. Среди них важное место отводится оксидным магнитным материалам – ферритам, обладающим уникальным сочетанием электромагнитных свойств. Они находят широкое применение в электронике, телевидении, технике магнитной звукозаписи, автоматике, вычислительной и сверхвысокочастотной технике.
Монокристаллические ферритовые пленки привлекают внимание исследователей в связи с возможностью наблюдения некоторых физических свойств, которые затруднительно изучать в объемных кристаллах, и с технологическими преимуществами при использовании их для создания различного рода устройств интегральной техники [1].
Особый интерес представляет перспектива использования монокристаллических пленок феррошпинелей с малыми магнитными и диэлектрическими потерями и высокой намагниченностью для разработки устройств на магнитостатических волнах. Согласно экспериментам [2] дисперсионные свойства СВ и эффективность их возбуждения в пленках шпинелей и в пленках ЖИГ, в принципе, одинаковы. Однако, с точки зрения применений в устройствах, пленки феррошпинелей имеют следующие преимущества это более высокие частоты, которые достигаются при тех же полях подмагничивания. Полоса частот, в которой могут быть возбуждены СВ, получается шире примерно в 7 раз.
Пленки феррошпинелей могут найти применение в устройствах памяти, магнитной логики, записи изображений [3].
Магнитные, электрические, механические свойства пленок сильно зависят от степени дефектности структуры: концентрации точечных дефектов, дислокаций и их скоплений, малоугловых границ [4]. Между тем большинство исследователей пленок феррошпинелей упускают из вида взаимосвязь физических свойств с дефектностью кристаллической решетки, сформировавшейся в процессе синтеза и охлаждения.
Теоретические и экспериментальные исследования дислокаций в связи с магнитными свойствами кристаллов показывают, что изменение энергии обменного взаимодействия, магнитоупругой и магнитостатической энергии кристалла зависят от количества дислокаций, их распределения и взаимодействия с другими дефектами [5].
При синтезе пленок феррошпинелей и последующем охлаждении практически невозможно избежать пластической деформации. Поэтому представляет интерес рассмотреть динамику пластической деформации и разрушения пленок феррошпинелей, данные о роли дислокаций в формировании электрических и магнитных свойств пленок феррошпинелей, а также возможность объяснения экспериментальных результатов из существующих теорий.
Структура и состав поверхностных слоев пленок феррошпинелей могут существенно влиять на магнитные характеристики: константы магнитной анизотропии, намагниченность насыщения, ширину линий ферромагнитного резонанса. Особенно чувствительны к состоянию поверхности параметры магнитостатических волн.
Поэтому комплексное проведение экспериментальных исследований особенностей структуры и свойств поверхностных слоев, физических свойств пленок феррошпинелей важно для более глубокого понимания физики магнитных явлений в феррошпинелях и для создания новых магнитных материалов для современной техники.
Цель работы:
Установление и интерпретация связи динамики пластического деформирования и разрушения монокристаллических пленок феррошпинелей, их электрических и магнитных параметров с дефектностью структуры, сформировавшейся в процессе роста и охлаждения от температуры синтеза, и последующих термических обработках.
Для этого решались следующие задачи:
В качестве объектов исследования были выбраны монокристаллические пленки исходного состава MnxFe3-xO4 c x=1; 0,65 и MgxMn1-xFe2O4 с х=0,25; 0,6; 0,8, толщиной 15-50мкм.
Монокристаллические пленки получены методом химических транспортных реакций на свежих сколах (001) оксида магния.
При выборе химического состава феррошпинелей исходили из потенциальных возможностей практического применения данной группы феррошпинелей в СВЧ устройствах из-за высокой намагниченности (3000-5000)Гс и больших полей анизотропии (~100÷200)Э, в запоминающих устройствах из-за высокой прямоугольности петли гистерезиса.
Исследования микротвердости, микропрочности и микрохрупкости проводились на приборе ПМТ-3М; дислокационной, блочной и доменной структуры на микроскопе МБИ-6. Исследования спектров ферромагнитного резонанса (ФМР) проводились на полуавтоматизированной установке в 3-см диапазоне длин волн; спектров магнитостатических волн (МСВ) методом подвижного преобразователя на лабораторном макете линии задержки. Электросопротивление измерялось с помощью моста МОД-61. Петли гистерезиса получены методом магнитооптического эффекта Керра.
Научная новизна работы.
Практическая ценность полученных результатов заключается в возможности их использования при разработке пленочных ферритовых материалов для СВЧ-техники и проектировании устройств на их основе.
Проанализирована зависимость микротвердости ферритовых пленок от толщины пленки и плотности дислокаций.
Рассмотрено влияние дефектов структуры на электрические свойства и параметры ферромагнитного резонанса.
Вторая глава посвящена описанию установки и режимов получения монокристаллических пленок феррошпинелей, методик исследования микроструктуры, травления пленок, результаты рентгеноструктурного анализа, а также методик исследования ФМР, распространения МСВ, измерения сопротивления и гальваномагнитного эффекта.
Приводятся данные расчета погрешностей измерения. Анализ ошибок показал, что точность измерения микротвердости при нагрузках от 0,49Н до 1,47Н составляет ~3,5-10%; максимальная ошибка в измерении ∆R/R составляет 5,4%.
По данным микроструктурного и рентгеноструктурного анализов синтезируемые образцы однофазны и имеют структуру шпинели.
Химический состав пленки не воспроизводит идентично состав источника, что подтверждается данными анализа, проведенного на микроанализаторе “Cameca”: исходным составом MnxFe3-xO4 c x=1; 0,65 в пленке соответствует х = 1,23; 0,9, т.е. из-за различия коэффициентов переноса при химтранспорте пленки обогащены марганцем.
P=adn, P=bDm,
где d – диагональ отпечатка, а- размерный коэффициент, характеризующий прочностные свойства испытуемого материала; n - безразмерный коэффициент, характеризующий интенсивность процесса упругопластического деформирования материала при вдавливании индентора; b - размерный коэффициент, характеризующий хрупкие свойства материала; m - безразмерный коэффициент, характеризующий интенсивность хрупкого разрушения материала в области отпечатка.
Данные механических свойств пленок различного состава приведены в таблице 1. Из сопоставления полученных результатов следует, что интенсивность процесса упругопластического деформирования при вдавливании индентора зависит от состава и среды, в которой осуществлялась закалка и отжиг образцов. Для пленок, охлажденных в атмосфере воздуха, при увеличении магния в составе интенсивность упругопластического деформирования уменьшается.
Таблица 1
Механические свойства пленок различного состава
Исходный состав |
Тип охлаждения после синтеза или обработки
|
№ |
Толщина плёнки,
мкм |
Глубина вдавлива- ния, мкм
|
Показатель степени
| |
n |
m | |||||
Mg0,8Mn0,2Fe2O4 |
Закалка в атмос- фере воздуха вакуумный отжиг |
1 1 |
20 20 |
0,9-2,53 1,1-2,66 |
2,01 2,56 |
1,89 1,86 |
MnFe2O4 |
Закалка в атмос-фере воздуха |
2 3
|
20 12
|
1,09-1,74 0,9-1,46
1,46-2,44 |
2,34 2,28
1,88 |
2,21 1,97
|
Облучение лазером |
3 |
12 |
0,83-1,48 1,48-2,51 |
2,43 1,95
|
1,61
| |
Вакуумный отжиг |
2 |
20 |
1,11-1,83 1,83-2,77 |
2,33 1,95
|
2,33 |
Лазерный отжиг приводит к росту интенсивности упругопластического деформирования (n) для пленок с х=0,8, и росту интенсивности хрупкого разрушения (m) для пленок с х=0. Облучение лазером изменяет оба коэффициента n и m.
Для пленок исходного состава Mg0,25Mn0,75Fe2O4 были проведены исследования зависимости P=f(d), P=f(D) (рис.1) отличающиеся размером блоков (рис.2). Из рис.1 следует, что с уменьшением размера блока растет безразмерный коэффициент (m), характеризующий интенсивность хрупкого разрушения материала, а безразмерный коэффициент, характеризующий интенсивность процесса упругопластического деформирования материала уменьшается.
Рис.1 Зависимость длины отпечстка (а) и зоны хрупкой повреждаемости (б) от нагрузки на индентор для пленок состава Mg0,25Mn0,75Fe2O4 с размером блоков 1-
~180мкм, 2 -
~18мкм, 3 -
~3мкм
а б в
Рис. 2. Блочная структура пленок исходного состава Mg0,25Mn0,75Fe2O4 с размером блоков: а - ~180мкм, б -
~18мкм, в -
~3мкм
Таким образом, интенсивность процесса упругопластического деформирования при вдавливании индентора и интенсивность хрупкого разрушения материала для пленок магний-марганцевых феррошпинелей определяется химическим составом, размером блоков и концентрацией точечных дефектов, варьируемых вакуумным и атмосферным отжигом.
H=1854P/d2,
где P - прикладываемая нагрузка, d - диагональ отпечатка
Критерием оценок пластических и хрупких свойств материалов является микрохрупкость и хрупкая прочность. Микрохрупкость вычисляется следующим образом: =D2/d2,
где D - размер зоны хрупкой повреждаемости.
Микропрочность определяется по формуле: =1000P/D2.
Характер зависимости микротвердости, микропрочности, микрохрупкости эпитаксиальных феррошпинелей существенно зависит от состава феррита, от типа и концентрации точечных дефектов. Разупрочнение поверхностного слоя определяется теми же параметрами. Глубина поверхностного слоя (1,2-2 мкм) растет с увеличением марганца в составе MnxFe2-xO4.
Рис.3 Зависимость микротвердости от размера блоков для пленок состава: Mg0,25Mn0,75Fe2O4 1- l=180мкм,
2- l=18мкм, 3- l=3мкм
Рис.4. Зависимость микротвердости (а), микрохрупкости (б), микропрочности (в) от глубины внедрения индентора для пленок состава Mg0,6Mn0,4Fe2O4 с различным типом дислокационной структуры: 1 – ориентированные скопления дислокаций, 2 – короткие скопления дислокаций, 3 – хаотическое распределение дислокаций.
Рис.5. Дислокационная структура пленок исходного состава: Mg0,25Mn0,75Fe2O4, а – ориентированные скопления дислокаций, б – короткие скопления дислокаций, в – хаотическое распределение дислокаций. x95
Рис. 6 Отпечатки пирамиды Виккерса для пленок исходного состава Mn Fe2O4 в зависимости от ориентации индентора относительно кристаллографических осей: а - d <110>, б - d <100>. x80
Искажение формы отпечатка связывается с анизотропией упругих модулей, а также с различной скоростью движения краевых и винтовых дислокаций.
С ростом нагрузки на индентор увеличивается длина трещины. Однако полного разрушения образца не происходит. Это означает, что развитие трещины в рассматриваемых материалах задержано пластической релаксацией. Скорость распространения трещины ~1,4·103мс-1. Размеры трещины слабо зависят от времени нагружения и практически скачком достигают полного размера от 1мкм до несколько десятков микрон. Такое поведение трещины характерно для квазихрупкого разрушения.
Отсутствие дислокационной розетки для пленок феррошпинелей (рис.7), в условиях микроиндентирования при комнатной температуре, является общей закономерностью для данного материала, что свидетельствует о малой подвижности дислокаций и низкой релаксационной способности феррошпинелей.
Рис.7 Розетка укола для пленок феррошпинелей исходного состава MnFe2O4. x80
На рис. 8а приведены вид отпечатка пирамиды Виккерса и зоны хрупкой повреждаемости для (001) плоскости кристалла оксида магния при ориентации диагонали отпечатка d║[100]. Видно, что микровдавливание индентора сопровождается хрупким разрушением отдельных микрообъектов материала, которое приводит к образованию зоны хрупкой повреждаемости в районе отпечатка в виде трещин. Трещины ориентированы вдоль <110>, и исходят из середины стороны отпечатка. Зависимость микротвердости, микрохрупкости и микропрочности для MgO имеет немонотонный характер.
Рис. 8 Кристалл MgO: а – вид отпечатка пирамиды Виккерса, б – вид дислокационной розетки. x80
Микротвердость выше, чем для пленок феррошпинелей и составляет ~(10-14)ГПа.
На рис. 8б изображен вид дислокационной розетки для (001) плоскости кристалла MgO. Травление проводилось при следующих условиях: объем травителя 5мл, соотношение HNO3:H2O=2:1, время травления 2,5мин. при температуре 550С. Из рисунка видно, что ямки травления, соответствующие краевым дислокациям, располагаются вдоль направлений <110>, винтовым дислокациям вдоль направлений <100>.
Из рисунка видно, что ряды дислокационных ямок травления располагаются в направлениях <100> и <110>. Эти направления совпадают с движением краевых и винтовых дислокаций на плоскости (001). Скорость движения головной дислокации 10-7~10-5м/c.
Эпитаксиальные феррошпинели содержат значительные количества электрически активных примесей 10-3÷10-1 [6], поэтому определяющим для процесса движения дислокаций будет являться торможение точечными дефектами. Значение потенциального барьера Пайерлса с учетом энергии активации примеси составляет ~0,446÷0,55эВ, а энергия связи примесного атома с дислокациями~0,498÷0,51эВ, что удовлетворительно совпадает с энергией активации движения дислокаций, полученной при изучении движения индивидуальных дислокаций при Т~573К. Такая энергия связи примесного атома с дислокацией характерна для пар вакансия-примесный атом. В эпитаксиальных феррошпинелях ими могут быть комплексы (Fe2++ڤ)
Исследование влияния размеров блоков на сопротивление деформации при микроиндентировании эпитаксиальных феррошпинелей MgxMnx-1Fe2O4 для х=0;0,6;0,8 при комнатной температуре показало справедливость уравнения
σ= σ0+Кl-1/2,
т.е. зависимость микропрочности от размеров блоков при эпитаксиальных феррошпинелях связана с торможением сдвига у границы блоков. Значение σ0-сопротивление движению дислокаций в плоскости скольжения, зависит от состава, увеличиваясь при переходе от х=0,8 к х=0, что коррелирует с ростом объемной плотности дислокаций по границам блоков. Упрочнение поверхностных слоев Δσ для пленок марганцевого феррита на порядок меньше, чем для магний-марганцевого. Пленкам состава Mg0,8Mn0,2Fe2O4 соответствует высокая плотность нелокализованных электронов ~10-27м-3 [6] и самые низкие значения микропрочности 0,2÷0.5ГПа. Снижение микропрочности возможно за счет уменьшения прочности связей вследствие высокой кинетической энергии нелокализованных электронов.
В пленках феррошпинелей возможен вакансионный механизм образования дислокаций как при внешней деформации, при микроиндентировании так и при закалке от температуры синтеза.
Если предположить, что все вакансии, имеющиеся при температуре синтеза Тс~1270К сохраняются в процессе закалки, то возможные пересыщения составят ~1010. Им соответствуют осмотические силы ~G/10. Эффект вакансионного пересыщения в пленках феррошпинелей увеличивается также за счет термических напряжений. Размер критического зародыша для устойчивого роста вакансионного скопления составляет для MgxMnx-1Fe2O4 ~3,28÷5,98нм. Пересыщение вакансий в кристалле можно создать при микроиндентировании. При нагрузке Рн~0,196Н внутреннее давление составляет ~0,636ГПа, деформационное вакансионное пересыщение lnc/c0~3,15, скорость переползания дислокаций расчетные ~2·10-7мс-1, экспериментальные ~1,3·10-7мс-1. Полученные результаты свидетельствуют о неконсервативном движении дислокаций при микроиндентировании пленок феррошпинелей при комнатной температуре. При деформации методом четырехточечного изгиба при температуре 673К нагрузке σ~50МПа, времени выдержки ~60с, величина вакансионного пересыщения согласно расчетам составляет ~105, радиус вакансионного диска ~4,69мкм, вакансионные скопления должны существовать в виде вакансионных петель т.к. выполняется критерий Франка, что подтверждается экспериментально. Однако размеры вакансионных петель в 2-3 раза меньше расчетных.
Дефекты структуры, электрические и гальваномагнитные свойства монокристаллических пленок феррошпинелей. Исследование температурных зависимостей электропроводности, эдс Холла, термоэдс для пленок феррошпинелей показали, что зависимость lnρ=f(1/T) для пленок носит такой же характер, как и для монокристаллов, и подчиняется общеизвестному для ферритов экспоненциальному закону. Она как бы состоит из отдельных участков, каждый из которых может быть описан функцией ρ~exp(∆E/kT). Изломы соответствуют тому, что энергия активации при повышении температуры меняет свои значения.
В области температуры Кюри, кроме изменения энергии активации при переходе из ферромагнитной области в парамагнитную, наблюдается “размытость” фазового перехода. Степень “размытости” зависит от состава пленок феррошпинелей, от типа термического отжига. Заметим, что для объемных монокристаллов переход из ферромагнитной области в парамагнитную на зависимости lnρ=f(1/T) не всегда четко выражен.
Рассмотрим анализ аномалий в области температуры Кюри.. Изменение lnρф в ферромагнитной области и lnρп в парамагнитной области, взятых в точке Кюри будет определятся соотношением [7]
ln ρф (Тk)-lnρп (Тk)= -(ln+β0/kTk),
где - предэкспоненциальный член, определяющий величину скачка и характеризующий изменение подвижности носителей тока при ферромагнитном упорядочении; 0 – параметр s-d обменного взаимодействия, значение которого можно определить по величине излома прямой lnρ, Тk – температура Кюри.
На рис.9 приведены температурные зависимости удельного сопротивления lnρ=f(1/T) для пленок исходного состава MnFe2O4 в области температуры Кюри.
Рис.9 Зависимость lnρ=f(1/T) в области температуры Кюри для пленок исходного состава MnFe2O4: 1 - до отжига, 2 - после вакуумного отжига
Параметр 0 определяет спин-электронное взаимодействие электрона проводимости с магнитными ионами, параметр χ [8]
характеризует взаимосвязь ΔE, β0 и kTk. Из приведенных данных следует, что для исходного состояния образца выполняется соотношение
ΔE>│β0│>kTk, χ<1.
На зависимости lnρ=f(1/T) в области температуры Кюри наблюдается “размытость” магнитного превращения и скачок сопротивления с уменьшением энергии активации.
Таблица 2
Влияние отжига на параметры пленок исходного состава MnFe2O4
|
Удельное сопротивление ρ, Омсм
|
Энергия активации проводимости ΔE, эВ
|
Энергия спин-спинового взаимодействия kTk,эВ |
Параметр об-менного взаи-модействия β0, эВ |
Пара- метр
χ |
1 |
3,6103 |
0,33 |
0,051 |
0,2 |
0,38 |
2 |
2,9101 |
0,02 |
0,048 |
0,65 |
46 |
3 |
4,4104 |
0,34 |
0,050 |
0,25 |
0,54 |
│β0│>kTk>ΔE, χ>>1
После атмосферного отжига, проведенного при идентичных температурных условиях с вакуумным, значение параметра χ, удельного сопротивления, энергия активации проводимости, параметра обменного взаимодействия незначительно увеличиваются (таблица 3), “размытость” магнитного превращения не наблюдается.
С целью анализа влияния степени дефектности структуры на s-d обменное взаимодействие и аномалии lnρ=f(1/T) в области магнитного превращения были проведены исследования для пленок деформированных при комнатной температуре.
После деформации методом четырехточечного изгиба наблюдается для пленок толщиной 24-70мкм увеличение параметра s-d обменного взаимодействия на 30-40%. Энергия активации проводимости в ферромагнитной области изменяется на ~1%, в парамагнитной области увеличивается на 10-20%. Температура Кюри смещается в область высоких температур, что означает, с точки зрения теоретических представлений работы [9], увеличение концентрации доноров (таблица 3, где ν число доноров на ион).
Пленки магний-марганцевых феррошпинелей относятся к слабо легированным магнитным полупроводникам [6], с концентрацией доноров достаточной для образования ферронов в области фазового перехода в точке Кюри [9]. Ферроны – это микрообласти с высокой степенью магнитного порядка, являющиеся для электрона потенциальной ямой. Ферроны интенсивно образуются в области температуры Кюри, когда магнитный порядок почти разрушен, при этом электроны выключаются из процесса переноса заряда и концентрация носителей падает. Область фазового перехода размывается, что и наблюдается экспериментально. Изменение энергии активации носителей заряда в окрестности температуры Кюри зависит от концентрации доноров и соответственно от концентрации ферронов.
Таблица 3
Изменение концентрации доноров при деформации
Толщина образца |
ΔTk,К |
ν |
Nд |
24 |
8 |
8,8·10-3 |
2,38·1026 |
45 |
30 |
2,72·10-2 |
7,3·1026 |
75 |
17 |
1,01·10-2 |
2,74·1026 |
Таблица 4
Параметры и технологические условия роста пленок исходного состава MnFe2O4
№ |
d, мкм
|
ТС,К |
МS, Гс
|
Ориента-ция Н |
(ΔR/R)IIэкс |
CS, Гс-2 |
(ΔR/R)┴экс |
CS, Гс-2 |
1. |
33
|
1208 |
176
|
НII[010] |
2,210-3 |
7,110-8 |
-2,410-3 |
7,710-8 |
HII[110] |
1,010-4 |
3,210-9 |
2,010-4 |
6,410-9 | ||||
2.
|
42
|
1333
|
214
|
HII[010] |
1,010-3 |
2,210-8 |
-2,810-3 |
6,010-8 |
HII[110] |
1,2510-4 |
2,710-9 |
1,7510-4 |
3,810-9 |
где αi и βi - направляющие косинусы вектора намагниченности относительно тетрагональных осей кристалла, h1, h2, h3, h4, h5- константы анизотропии.
Рассматривая частные случаи этого решения для плоскости (001), получены уравнения для расчета констант анизотропии. При определении констант гальваномагнитного эффекта были исключены факторы, которые могут влиять в той или иной степени на величину гальваномагнитного эффекта. Значения констант , h1, h2, h3, h4 приведены в таблице 5.
Таблица 5
Константы анизотропии гальваномагнитного эффекта пленок MnFe2O4
№ |
|
h1 |
h2 |
h3 |
h4 |
1 |
Пленки с ХРД |
-8,010-3 |
-1,410-3 |
2,710-3 |
12·10-3 |
2 |
Пленки с ОСД |
-0,7510-3 |
-0,410-3 |
3,510-3 |
9,0·10-3 |
Экспериментальные значения констант анизотропии гальваномагнитного эффекта для пленок с хаотическим распределением дислокаций не противоречат по порядку величины 10-210-3 оценкам, полученным на основании квантомеханического расчета, для ферромагнетиков исходя из s-d обменной модели ферромагнитного кристалла [10]. Для пленок с ориентированным скоплением дислокаций константы h1 и h2 на порядок меньше.
Из таблицы 4 следует, что для образца с ориентированным скоплением дислокаций спонтанный коэффициент Сs оказывается меньше на 14% в направлении трудного и на 40% в направлении легкого намагничивания.
Сопоставим для рассматриваемых образцов электрические (ρ-удельное сопротивление), магнитные (К1-первая константа кристаллографической анизотропии, К3-третья константа кристаллографической анизотропии, Кu-индуцированная магнитная анизотропия, На-поле анизотропии, резонансные потери α[100] при намагничивании вдоль трудной оси и α[110] при намагничивании вдоль легкой оси (таблица6).
Таблица 6
Электрические и магнитные параметры пленок MnFe2O4
N |
ρ, Омсм
|
К1, Эрг/см3 |
К3, Эрг/см3 |
Кu, Эрг/см3 |
На, Э
|
α[100] |
α[110] |
1 |
4,24104 |
-2,95104 |
3103 |
2103 |
335 |
1,9610-2 |
3,3510-2 |
2 |
2,73104 |
-3.5104 |
7,4103 |
6,4103 |
327 |
2 ![]() ![]() |
4,0610-2 |
Из проведенных данных следует повторяемость свойств рассматриваемых образцов в пределах порядка. Однако, образцы с ориентированными скоплениями дислокаций имеют более высокие значения третьей константы анизотропии, как и для гальваномагнитного эффекта (таблица 5), а также более высокую индуцированную магнитную анизотропию и большие резонансные потери.
Из рис.10 видно, что переход от технического намагничивания к парапроцессу для пленок с ориентированными скоплениями дислокаций “размывается”, при этом наблюдается более интенсивная зависимость ΔR/R от Н.
В магнитных полупроводниках с концентрацией носителей ~1025÷1026м-3 возможно косвенное обменное взаимодействие ионов переходных элементов через носителей тока [9].
Поскольку пластическая деформация увеличивает концентрацию доноров [6], то в пленках марганцевых ферритов с ориентированными скоплениями дислокаций возможно дополнительное, положительное обменное взаимодействие (ферромагнитное упорядочение), через электроны проводимости, наряду с основным отрицательным обменным взаимодействием (антиферромагнитное упорядочение), через возбужденный ион кислорода – косвенный обмен типа Крамерса-Андерсона [11]. Это может являться причиной “размытости” перехода от технического насыщения к парапроцессу.
Дефекты структуры и магнитные свойства пленок феррошпинелей. Статические петли гистерезиса, полученные методом магнитооптического эффекта Керра, пленок исходного состава Mg0,25Mn0,75Fe2O4 имеют коэффициент прямоугольности Br/Bm~0,84÷0,98, коэффициент квадратности HT/Hc~0,7÷0,9, что удовлетворительно совпадает с данными для промышленных объемных ферритов системы MnO-MgO-Fe2O3 различных составов, где Br/Bm~0,9÷0,93, а HT/Hc ~0,7÷0,8.
Самую высокую прямоугольность петли гистерезиса и большие значения коэффициента квадратности имеет образец с минимальным размером блоков ~5мкм, минимальным градиентом напряжений ~3МПа, с равномерным распределением дислокаций. Зависимосить Br/Bm от размера блоков не выявляется, коэффициент квадратности уменьшается с увеличением размера блоков и ростом градиента напряжений. В частности при Н║[100] для l~5мкм HT/Hc ~1, для l~20мкм HT/Hc ~0,9, для l~190мкм HT/Hc~0,8. Доменная структура для рассматриваемых образцов характеризуется крупными доменами ~10-3см с четкими прямолинейными доменными стенками и клинообразными замыкающими доменами возле концентраций напряжений. Ширина доменной стенки ~5∙10-5см, т.е. составляет сотни постоянных решеток, что характерно для “магнитомягких” материалов. Плотность энергии доменной стенки составляет ~(2÷0,1)эрг·cм-2. изменение плотности энергии доменной стенки с учетом напряжений в поверхностном слое составляет ~(0,24÷0,27)эрг·см-2, что несущественно. По плотности поверхностной энергии доменной стенки рассматриваемые образцы пленок также можно отнести к магнитомягким материалам.
Завышенные значения коэрцитивной силы Нс~30÷60Э, по сравнению с объемными кристаллами и пленками феррошпинелей, могут быть обусловлены значительным содержанием ионов Fe2+, так как образцы были получены при низком значении кислорода в камере синтеза (Рвозд.~5мм.рт.ст.).
Методом ФМР были оценены намагниченность насыщения, константы кристаллографической (К1) и наведенной (Кu) анизотропии, полуширина линии ФМР, резонансные поля для пленок различного состава MnxFe3-xO4 и типа дислокационной структуры (х=0,65 – хаотическое распределение дислокаций, х=1 – ориентированные скопления дислокаций) (табл.7 и 8).
Здесь же приведены данные: обменной константы (αобм), безразмерной константы наведенной анизотропии (βs) радиуса обменного взаимодействия (Rα), радиуса магнитно-дипольного взаимодействия (Rm), параметра закрепления спинов (ds), эффективного параметра затухания (α), эффективного времени релаксации (τ). Для расчета перечисленных параметров использовались формулы работы [12], толщина поверхностного слоя h получена из зависимости микротвердости от глубины внедрения индентора.
Таблица 7
Магнитные параметры пленок MnxFe3-xO4
х |
h, мк |
Ms, Гс
|
К1, эрг/см3 |
Кu, эрг/см3 |
α, см-1 |
βs |
Rα, см
|
ds, см-1 |
0,65 |
1,6 |
320 |
-3,6·104 |
1,2·103 |
1,9·10-11 |
4,4·10-2 |
2·10-5 |
4,63·105 |
1 |
2 |
198 |
2,95·104 |
2·103 |
2,65·10-11 |
1,0·10-1 |
1,6·10-5 |
7,6·105 |
Таблица 8
Магнитные параметры пленок исходного состава MnxFe3-xO4
х |
Rm, см
|
На, Э
|
Hр[100] Э |
Hр[110] Э |
ΔH[100] Э |
ΔH[110], Э |
α[100], см-1 |
τ, нс
|
0,65 |
2.56·10-3 |
225 |
1429 |
1920 |
11,4 |
20,5 |
5,9·10-3 |
3,07 |
1 |
1,08·10-4 |
297 |
2042 |
1736 |
19,9 |
38,7 |
9,7·10-3 |
10 |
Для расчета обменной константы (αобм) была найдена постоянная спин-спинового обменного взаимодействия (А) по температуре Кюри. Величина А~(5,02÷5,96)·10-7эрг·см-1 для пленок различного состава MgxMnx-1Fe2O4 не противоречат по порядку величины для объемных феррошпинелей. Для пленок исходного состава Mg0,6Mn0,4Fe2O4 величина А согласуется с оценкой по ширине доменной стенки.
Из приведенных данных следует, что с увеличением марганца в составе степень дефектности структуры повышается, что существенно влияет на ширину линии ферромагнитного резонанса и соответственно на эффективный параметр затухания (α) и эффективное время релаксации.
Для монокристаллических пленок марганцевых и магний-марганцевых феррошпинелей размеры блоков l~(10-4÷10-2)см превышают радиусы обменного взаимодействия и соизмеримы с радиусами магнитно-дипольного взаимодействия; константы наведенной анизотропии на порядок меньше константы кристаллографической анизотропии, параметр закрепления спинов ~105см-1, что свидетельствует о слабом закреплении спинов и возможности возбуждения дипольных спиновых колебаний и волн с k´<104cм-1, что подтверждено экспериментально k´~200-600см-1.
Параметры пленок исходного состава Mg0,25Mn0,75Fe2O4 различной толщины d, полученные из анализа спектров МСВ приведены в таблице 9.
Таблица9
№ |
d, мкм
|
H0, Э
|
f, ГГц
|
Мs, Гс
|
К1, эрг/cм3 |
![]() |
L=76,4ΔHk Дб/мкс
|
α(ФМР), f=9,87ГГц |
1 |
22 |
400 |
3,3 |
278 |
-3,7·104 |
1,8·10-2 |
2062 |
7,5·10-2 |
2 |
35 |
400 |
3,69 |
216 |
-0,9·104 |
3,4·10-2 |
2827 |
3,7·10-2 |
3 |
15 |
700 |
5,2 |
394 |
-4,3·104 |
2,2·10-3 |
382 |
3,2·10-2 |
Релаксационное затухание волн Дэймона-Эшбаха вычисленное по формуле , где коэффициент
, для рассматриваемых образцов, составляет (10-3÷10-2), причем 10-2 соответствует образцам с высокой степенью пластической деформации (образцы 1,2). В формуле для η0- коэффициента
,
Дефекты структуры, механические, электрические и магнитные свойства монокристаллических пленок феррошпинелей
24 09 2014
2 стр.
В основу настоящей программы положены основные разделы физики конденсированного состояния, касающиеся основных физических проблем данной области
24 09 2014
1 стр.
Работа выполнена на кафедре экспериментальной физики Кубанского государственного университета
30 09 2014
5 стр.
Секция №1 Физика: физика ускорителей, физика конденсированного состояния, физика поверхности, физические основы радиационных и плазменных технологий, водородная энергетика, наномат
10 09 2014
7 стр.
Планка. Таким образом, локальными (корпускулярными) электромагнитными характеристиками микрочастицы являются электрический заряд, определяющий ее электрические свойства и собственн
05 09 2014
1 стр.
29 09 2014
4 стр.
В отчетном году научно-исследовательская работа кафедры велась по двум традиционным направлениям: 1 физика конденсированного состояния вещества, 2 физика элементарных частиц и косм
26 09 2014
1 стр.
Данный практикум дает возможность познакомиться с современным экспериментальным оборудованием (спектрометром ядерного резонанса) и изучить возможности применения методов радиоспект
02 10 2014
10 стр.