Flatik.ru

Перейти на главную страницу
Поиск по ключевым словам:

страница 1
Вопросы к экзамену по курсу

Методы диагностики и анализа микро- и наносистем
Весенний семестр. Казанцева И.А.

  1. Сравнительные характеристики дифракционных методов исследования. Возможности методов для диагностики и анализа микро- и наносистем

  2. Основные закономерности и допущения кинематической теории рассеяния коротковолнового излучения на кристаллах. Математический аппарат дифракционного эксперимента. Понятие обратного пространства, обратной решетки

  3. Дифракция на кристаллах в свете обратной решетки и сферы Эвальда. Отличия дифракции электронов от дифракции рентгеновских лучей. Правомочность замены сферы Эвальда плоскостью

  4. Понятие атомной, структурной амплитуд, структурного фактора. Законы погасания для кубических кристаллов

  5. Основные методы рентгеноструктурного анализа. Метод Лауэ

  6. Основные методы рентгеноструктурного анализа. Метод вращения. Возможности метода

  7. Метод Дебая. Основы рентгеноструктурного фазового анализа

  8. Сводные формулы интегральной интенсивности рентгеновского излучения, рассеянного поли- и монокристаллом. Поляризационный фактор Томпсона, температурный множитель, фактор Лорентца, множитель повторяемости, множитель поглощения

  9. Основная формула электронографии. Применение. Факторы, влияющие на точность расчетов при использовании основной формулы электронографии

  10. Геометрия основных типов электронограмм (монокристалл, текстура, поликристалл). Трактовка дифракции в свете обратной решетки и сферы Эвальда

  11. Геометрия точечных электронограмм исходя из трактовки дифракции в свете обратной решетки и сферы Эвальда. Факторы, влияющие на образование точечных электронограмм. Симметрия точечных электронограмм

  12. Правила построения эталонных точечных электронограмм

  13. Правила индицирования точечных электронограмм

  14. Электронограммы от поликристаллов. Построение Эвальда

  15. Расшифровка электронограмм от поликристалла. Определение по электронограмме поликристалла вещества и типа решетки Браве (кубическая система)

  16. Электронограммы от текстур. Закономерности расположения рефлексов на электронограммах от прямых и косых текстур

  17. Электронограммы с кикучи-линиями. Применение электронограмм с кикучи-линиями

  18. Основные узлы просвечивающего электронного микроскопа. Назначение. Режимы работы микроскопа. Ход лучей

  19. Разрешающая способность. Дифракционный предел. Разрешение просвечивающего электронного микроскопа

  20. Устройство электронного микроскопа. Назначение конденсора. Однолинзовый и двухлинзовый конденсор

  21. Назначение апертурной диафрагмы. Темнопольное и светлопольное изображения. Назначение селекторной диафрагмы

  22. Осветительная система просвечивающего электронного микроскопа. Устройство электростатической линзы

  23. Устройство магнитной линзы. Аберрации электронных линз. Чем ограничено разрешение электронного микроскопа?

  24. Методы просвечивающей электронной микроскопии. Метод прямого разрешения, метод Муара, метод дифракционного контраста

  25. Кинематическая теория контраста в ПЭМ. Изображение дефектов кристаллического строения. Изучение дислокационной структуры, дефектов упаковки


Осенний семестр. Николичев Д.Е.

  1. Влияние состава на свойства вещества. Влияние состава на свойства наноструктурированных объектов

  2. Аналитические возможности методов электронной спектроскопии для диагностики состава полупроводниковых структур

  3. Аналитический сигнал, шум, отношение сигнал/шум, фон

  4. Атомно-абсорбционная спектроскопия

  5. Атомно-эмиссионная спектроскопия

  6. Взаимодействие электронного зонда с поверхностью твердого тела

  7. Инфракрасная спектроскопия полупроводников. Физические основы диагностики состава полупроводников методами ИК-спектроскопии

  8. Источники излучения для масс-спектроскопии

  9. Качественный и количественный анализ в методах ЭОС и РФЭС

  10. Математические методы обработки спектров

  11. Методика анализа для электронной Оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

  12. Методика подготовки образцов для электронной Оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

  13. Общая схема электронного Оже-спектрометра

  14. Общие принципы устройства оптических спектрометров. Характеристики оптических спектрометров

  15. Послойный анализ с использованием травления ионами

  16. Артефакты измерений в методе электронной Оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

  17. Помехи при измерении аналитического сигнала и методика их снижения

  18. Растровый электронный микроскоп. Схема. Принцип работы. Контраст в методе растровой электронной микроскопии

  19. Принципы устройства масс-спектрометров

  20. Растровая Оже-микроскопия. Характеристики метода для локального анализа полупроводников

  21. Спектрометры для регистрации энергии электронов. Их характеристики. Детекторы, применяемые в электронной спектроскопии

  22. Спектроскопия фотолюминесценции

  23. Стадии анализа методом электронной Оже-спектроскопии

  24. Тонкая структура Оже- и фотоэлектронных спектров

  25. Физические основы электронной Оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Вопросы к экзамену по курсу Методы диагностики и анализа микро- и наносистем

Сравнительные характеристики дифракционных методов исследования. Возможности методов для диагностики и анализа микро- и наносистем

34.94kb.

28 09 2014
1 стр.
Вопросы к подготовке к итоговым тестам

Методы анализа в фармакогнозии. Методы анализа на подлинность: макро- и микроскопический анализ. Качественный химический анализ. Методы количественного анализа: гравиметрический, т

30.3kb.

06 10 2014
1 стр.
Вопросы к экзамену по курсу «Электродинамика сплошных сред»

Понятия микро- и макрополя в среде. Усреднение, Электрическая напряженность и магнитная индукция в среде

21.4kb.

26 09 2014
1 стр.
Вопросы к зачёту «Методы и приборы для изучения, анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». 2 семестр

Спектроскопические методы исследования наноматериалов. Электронная спектроскопия

21.16kb.

14 12 2014
1 стр.
Вопросы к экзамену по курсу «Монтаж, наладка, эксплуатация и ремонт сэс»

Вопросы к экзамену по курсу «Монтаж, наладка, эксплуатация и ремонт сэс» зимняя сессия

19.09kb.

08 10 2014
1 стр.
Программа дисциплины «Методы и приборы для изучения, анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов»
136.1kb.

09 09 2014
1 стр.
Вопросы к экзамену по курсу ря и кр для студентов 030602 7061гр

Экзаменационный билет по курсу включает три вопроса – 2 теоретических и 1 практический. Список теоретических вопросов предлагается студентам заранее

14.36kb.

08 10 2014
1 стр.
Вопросы к экзамену по курсу «Средства и системы технического обеспечения передачи, обработки и распределения информации»
172.96kb.

01 10 2014
1 стр.