Flatik.ru

Перейти на главную страницу

Поиск по ключевым словам:

страница 1
Вопросы к зачёту «Методы и приборы для изучения, анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов».

2 семестр.


  1. Спектроскопические методы исследования наноматериалов. Электронная спектроскопия.

  2. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФС). Физические принципы метода РФС.

  3. Возникновение (генерация) рентгеновских лучей. Модель атома Бора.

  4. Спектрометр и энергоанализаторы в РФС.

  5. Спектр фотоэлектронов в РФС.

  6. Основы электронной оже – спектроскопии (ЭОС).

  7. Регистрация оже – электронов.

  8. Получение оже – спектра.

  9. Количественная и растровая оже – спектроскопия.

  10. Основы рентгеновского флуоресцентного анализа (РФА).

  11. Возбуждение характеристического излучения. Рентгеновские трубки, спектр тормозного излучения.

  12. Типы рентгеновских трубок.

  13. Возбуждение характеристического излучения в материале пробы.

  14. Измерение рентгеновских лучей. Газопропорциональный счетчик и сцинтилляционный счетчик.

  15. Дифракция на кристаллах. Интерференция.

  16. Рентгеновская дифракция на кристаллической решетке, условие отражения (уравнение) Вульфа – Брэггов.

  17. Типы кристаллов.

  18. XAFS – спектроскопия. Спектроскопия рентгеновского поглощения.

  19. Основы XANES, EXAFS.

  20. Источники рентгеновского излучения. Синхротронное излучение.

  21. XAFS – спектрометр.

  22. Колебательная спектроскопия. Инфракрасная спектроскопия (ИК). Инфракрасное излучение и колебания молекул.

  23. Теоретические основы инфракрасной спектроскопии. Гармонические колебания.

  24. Ангармонические колебания.

  25. Колебания многоатомных молекул.

  26. Основные области инфракрасного спектра.

  27. ИК – спектрометр.

  28. Источники ИК – излучения. Приемники ИК – излучения.

  29. Особенности техники ИК – эксперимента.

  30. Спектроскопия комбинационного рассеяния (КР) (рамановская спектроскопия).

  31. Дисперсионная спектроскопия КР. Микроскопия КР.

  32. Фурье – спектроскопия КР. Спектрометр КР.

  33. Радиоспектроскопия. Ядерный магнитный резонанс (ЯМР). Магнитные свойства ядер.

  34. Эффект Зеемана. Основы спектроскопии ЯМР.

  35. Заселенность энергетических уровней. Чувствительность различных ядер. Релаксационные процессы и ширина линий в спектрах ЯМР.

  36. ЯМР – спектрометры.

  37. Спектроскопия 1Н ЯМР. Химический сдвиг. Спин-спиновое взаимодействие. Мультиплетность сигналов.

  38. Спектроскопия 13С ЯМР и на других ядрах.

  39. Экспериментальные аспекты спектроскопии ЯМР.

  40. Электронный парамагнитный резонанс (ЭПР). Основы метода.

  41. Эффект Зеемана в ЭПР. Основное уравнение резонанса.

  42. Характеристики спектров ЭПР.

  43. ЭПР – радиоспектрометр.

Вопросы к зачёту «Методы и приборы для изучения, анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». 2 семестр

Спектроскопические методы исследования наноматериалов. Электронная спектроскопия

21.16kb.

14 12 2014
1 стр.


Программа дисциплины «Методы и приборы для изучения, анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов»
136.1kb.

09 09 2014
1 стр.


Вопросы к экзамену по курсу Методы диагностики и анализа микро- и наносистем

Сравнительные характеристики дифракционных методов исследования. Возможности методов для диагностики и анализа микро- и наносистем

34.94kb.

28 09 2014
1 стр.


Вопросы к подготовке к итоговым тестам

Методы анализа в фармакогнозии. Методы анализа на подлинность: макро- и микроскопический анализ. Качественный химический анализ. Методы количественного анализа: гравиметрический, т

30.3kb.

06 10 2014
1 стр.


[Приборы и методы экспериментальной физики]

В основу данной программы положены следующие дисциплины: методы измерения основных физических величин, основы метрологии, методы анализа физических измерений, моделирование физичес

43.96kb.

02 10 2014
1 стр.


Реферат Тема. Методы пломбирования корневых каналов гуттаперчей. Основные вопросы для изучения

Технологическая карта самостоятельного изучения теоретического материала (реферат)

34.51kb.

17 12 2014
1 стр.


Использование сканирующей зондовой микроскопии для изучения наноматериалов
552.06kb.

02 10 2014
8 стр.


Программа-минимум кандидатского экзамена по специальности 05. 11. 01 «Приборы и методы измерений

«Приборы и методы измерений (по видам измерений)» по техническим и физико-математическим наукам

78.4kb.

18 12 2014
1 стр.