Перейти на главную страницу
где q — заряд на ёмкости С, P0 — амплитуда внешней силы, p — частота внешней силы.
Характерные свойства вынужденных колебаний в линейной системе:
В нелинейных системах нет принципиального различия между воздействием на систему внешней ЭДС и параметрическим воздействием. Действительно, под влиянием внешней ЭДС периодически изменяются токи и напряжения в схеме, а это приводит к периодическому изменению параметров нелинейных элементов. Периодическое изменение реактивного параметра при достаточной интенсивности и соответствующей частоте вызывает параметрическое возбуждение колебаний в системе.
Целью данной задачи является изучение резонансных кривых нелинейного контура при нелинейном резонансе (частота внешнего воздействия близка к частоте собственных колебаний контура) и при параметрическом резонансе (частота внешнего воздействия близка к удвоенной частоте собственных колебаний контура).
Параметр характеризует нелинейность контура. Предполагается, что x2 << 1.
Исследование уравнения (2) показывает, что частота собственных колебаний системы зависит от амплитуды А колебаний и определяется выражением:
2 = . (3)
Из этого выражения видно, что при увеличении амплитуды колебаний собственная частота нелинейного контура, равная 0 при малых амплитудах, увеличивается при > 0 и уменьшается при < 0 (рис. 1). Знак определяется поведением средней величины нелинейного параметра контура при изменении амплитуды. В нашем случае нелинейным параметром является ёмкость. Если с ростом амплитуды колебаний средняя емкость контура увеличивается, то < 0. Если же средняя емкость падает с ростом амплитуды, то > 0. Решение уравнения (2) может быть найдено, например, методом гармонического приближения или методом медленно меняющихся амплитуд. Семейство резонансных кривых нелинейного контура, полученное указанными методами при > 0, заданном значении и при различных значениях амплитуды внешней силы, показано на рис. 2.
Как видно из рис. 2, резонансные кривые могут быть двух видов. Кривые одного вида соответствуют значениям амплитуды внешней силы, меньшим некоторой критической величины, и характеризуются однозначной зависимостью амплитуды вынужденных колебаний от частоты внешней силы. Резонансные кривые этого вида представляют собой несколько деформированные резонансные кривые для обычного линейного контура. Максимум у них смещён в сторону больших частот в соответствии с уравнением (3) при > 0.
Другой вид резонансных кривых соответствует амплитудам внешней силы, большим некоторого критического значения P0кр. У резонансных кривых этого вида имеются участки с неоднозначной зависимостью амплитуды вынужденных колебаний от частоты внешнего воздействия. В области частот, где резонансные кривые являются трехзначными, среднее значение амплитуды неустойчиво, поэтому при экспериментальном исследовании резонансных кривых наблюдаются скачки амплитуды при достижении границ неустойчивой области. При противоположном знаке резонансные кривые будут иметь наклон в противоположную сторону.
В системах с нелинейными потерями изменение амплитуды колебаний не влияет на собственную частоту колебательного контура. Поэтому резонансные кривые таких систем не имеют наклона. Характерной особенностью резонансной кривой контура с нелинейными потерями является наличие плоской вершины (обычно потери увеличиваются с ростом амплитуды). В реальных системах с нелинейными элементами (например, с полупроводниковыми диодами) могут одновременно меняться активные и реактивные параметры. По форме резонансной кривой, полученной экспериментально, можно судить о том, какой из нелинейных параметров играет в схеме бóльшую роль.
Если в контуре с нелинейным конденсатором происходят вынужденные колебания, то под их влиянием модулируется емкость нелинейного конденсатора. Частота и амплитуда модуляции емкости определяются частотой и амплитудой вынужденных колебаний. Параметрическое возбуждение колебаний возникает, если p 20 и глубина модуляции емкости имеет достаточно большую величину. Последнее условие выполняется лишь при достаточно большой амплитуде вынужденных колебаний с частотой p. Для теоретического исследования явления параметрического резонанса необходимо проанализировать решения уравнения
описывающего движения в контуре с нелинейной реактивностью при действии на этот контур внешней силы с частотой p.
При параметрическом возбуждении колебаний в контуре будут одновременно наблюдаться два процесса: вынужденные колебания с частотой p и параметрически возбужденные колебания с частотой 0, поэтому решение уравнения (4) целесообразно искать в виде суммы колебаний с частотами p и
:
x = Acospt + Bcos.
Для A и B методом медленно меняющихся амплитуд могут быть получены следующие выражения:
Здесь = — расстройка с учетом поправки на неизохронность нелинейного контура, m = 42A2 — коэффициент модуляции реактивного параметра с частотой p; =
. Из выражений для и m следует, что коэффициент при x2 в уравнении (4) определяет глубину модуляции реактивного параметра при наличии колебаний в нелинейном контуре, а от коэффициента при x3 зависит только величина поправки к собственной частоте 0 на неизохронность нелинейного контура.
На рис. 3 приведен график зависимости амплитуды B параметрически возбужденных колебаний от частоты p внешней силы при > 0. Выражения для B, , m и позволяют найти частоты внешней силы, соответствующие точкам D и C на рис. 3:
pD = 20,
pC = 20.
Эти точки определяют полосу частот, в пределах которой возможно параметрическое возбуждение колебаний. При уменьшении амплитуды внешнего воздействия точки D и C сближаются, и при m 4, т. е. при амплитуде внешней силы P0 , становится невозможным.
На практике в качестве нелинейной емкости обычно используется барьерная емкость запертого p-n-перехода полупроводникового диода. Для объяснения физической природы барьерной емкости рассмотрим кристалл полупроводника, в котором имеется область с электронной проводимостью (область n) и область с дырочной проводимостью (область p). При контакте p- и n- областей часть электронов из n- области переходит в область p, а часть дырок из переходит в n- область; в последней вблизи границы образуется нескомпенсированный положительный заряд неподвижных ионизированных доноров.
Соответственно в p- области из-за ухода дырок образуется отрицательный объемный заряд неподвижных ионизированных акцепторов. Между этими зарядами возникает электрическое поле, которое препятствует дальнейшему переходу электронов в область p и дырок в область n. Разность потенциалов между областями p и n, образующаяся при контакте, равна разности работ выхода электронов. При подаче на запирающего напряжения V высота потенциального барьера между областями p и n возрастает на величину приложенного напряжения, увеличивается и электрическое поле в переходе. Это приводит к расширению p-n-перехода. Электроны и дырки, вытолкнутые полем из перехода, уходят вглубь областей p и n, вследствие чего увеличивается положительный объемный заряд в области n и отрицательный в области p. При подаче на p-n-переход прямого напряжения высота потенциального барьера уменьшается, переход сужается, заряды уменьшаются.
Таким образом, изменения напряжения, приложенного к переходу, приводят к изменению объемного заряда в переходе, т. е. переход действует как емкость.
Расчет показывает, что величина этой емкости зависит от напряжения на p-n-переходе в соответствии с выражением
где C0 — величина емкости при напряжении равном нулю,
Величина зависит от распределения примесей в переходе. Обычно . График зависимости емкости p-n-перехода от приложенного напряжения изображен на рис. 4. Из рисунка видно, что емкость наиболее сильно меняется при напряжении равном нулю или даже при положительных напряжениях. Однако необходимо иметь в виду, что полупроводниковый диод при положительных напряжениях начинает пропускать ток, поэтому емкость p-n-перехода оказывается зашунтированной нелинейным сопротивлением. При достаточно больших отрицательных напряжениях в p-n-переходе происходит пробой и диод начинает пропускать ток в обратном направлении. В области напряжений Vпр < V < 0 ток через диод мал и сам диод является добротным нелинейным конденсатором. При V < 0 и V < Vпр малое сопротивление шунтирует его емкость, вследствие чего добротность нелинейного конденсатора ухудшается. Поэтому при использовании полупроводникового диода в качестве нелинейной емкости необходимо так выбирать рабочую точку, чтобы не заходить в область малого активного сопротивления. Одновременно необходимо добиваться максимального изменения емкости. Возможны два способа создания необходимого смещения на диоде:
В данной задаче используются оба эти способа создания необходимого смещения на диоде. При использовании принудительного смещения резонансные кривые имеют наклон в область низких частот, а при автоматическом смещении — в область высоких частот (объясните, почему).
Диод Д1 может работать как с принудительным, так и с автоматическим смещением. Выбор типа смещения осуществляется переключателем П1, имеющим два положения: «А» и «П». На рис. 5 этот переключатель указан в положении «А», соответствующем автоматическому смещению. В этом случае в нелинейном контуре последовательно с катушкой L1 и диодом Д1 включается цепочка R1, C1, на которой выделяется напряжение автоматического смещения.
Для исследования резонансных явлений в режиме с принудительным смещением на диоде Д1 переключатель П1 следует перевести в положение «П». В этом случае напряжение смещения подается на диод от источника напряжения, встроенного в экспериментальную установку. Величина напряжения смещения регулируется потенциометром R2 и измеряется внешним вольтметром, подключённым к гнёздам Uсм.
Для наблюдения колебаний на экране осциллографа и измерения их амплитуды половина напряжения с катушки L1 через повторитель подается на гнёзда U1. При исследовании параметрического резонанса на эти гнёзда, помимо напряжения возбуждаемых колебаний, подаётся и напряжение внешнего генератора, имеющее удвоенную частоту, что затрудняет измерение возбуждаемых колебаний. Для устранения этого явления в установке имеется фильтр нижних частот, который пропускает на выход (гнёзда U2) только исследуемые колебания.
В упражнении изучается как прямая, так и обратная ветви вольтамперной характеристики. Результаты измерений представляются в виде графика I(Uсм).
Подать сигнал с генератора высокой частоты на колебательный контур (гнёзда Eвч). Рекомендуется использовать амплитуду генератора Eвч ≲ 0,05 В. Выходной сигнал с контура (гнёзда U1) подать на осциллограф.
Перестраивая частоту генератора, по максимуму амплитуды колебаний определить значение резонансной частоты контура для каждого выбранного значения напряжения смещения. Частоту генератора изменять в пределах 0,5 1,5 МГц.
Рассчитать значения ёмкости диода Д1 с помощью формулы f = (2)–1 по известным значениям индуктивности L1 = 0,28 мГн и резонансной частоты. Результаты представить в виде графика С = С(Uсм).
Изучить зависимость амплитуды вынужденных колебаний в нелинейном контуре от частоты генератора. Напряжение смещения на диоде и амплитуду генератора следует подбирать таким образом, чтобы резонансная кривая имела неоднозначный участок. Частоту генератора изменяют в диапазоне 0,5 1,5 МГц. В области неоднозначности резонансной кривой её следует снимать как в направлении увеличения, так и уменьшения частоты. Измерения проводят как с автоматическим, так и с принудительным смещением. Результаты измерений представляются в виде двух резонансных кривых (для автоматического и для принудительного смещения).
Переключить осциллограф на клеммы U2. Экспериментально исследовать зависимость амплитуд вынужденных колебаний от частоты генератора при p 20. В гистерезисной области резонансной кривой её следует снимать как в направлении увеличения, так и уменьшения частоты. Измерения проводятся как с автоматическим, так и с принудительным смещением. Результаты представляются в виде двух резонансных кривых.
В задаче исследуются колебания в контуре с нелинейной емкостью, возникающие под действием внешней силы, частота которой близка к собственной частоте контура или имеет вдвое большую
06 10 2014
1 стр.
«Практикум по культуре русской речи» основан на программе и учебном пособии Т. Л. Служевской «Уроки русской словесности. Практикум по культуре речи». С-п, 1994
25 09 2014
1 стр.
О деформирования слоистой оболочки. Дифференциальные уравнения задачи, позволяющие обеспечить сопряжение полей деформаций и температур, учесть явление поперечных сдвиговых деформац
13 10 2014
1 стр.
Сведение задачи Коши и краевой задачи к интегральным уравнениям. Типы интегральных уравнений
06 10 2014
1 стр.
Целью работы является теоретический анализ таких колебаний в двумерном приближении. Рассматривается идеализированный случай полностью плоских колебаний, для которых смещения u z вд
02 10 2014
1 стр.
Общие вопросы проектирования сэс в сапр. Структурно-параметрический синтез. Математическая модель однокритериальной задачи синтеза. Многокритериальный синтез
08 10 2014
1 стр.
«Практикум по радиоэлектронике», «Радиопрактикум», "Аналоговые цепи и сигналы", "Цифровые цепи и сигналы", "Физическая электроника", "Основы теории колебаний", "Статистическая ради
02 10 2014
1 стр.
14 12 2014
1 стр.