Flatik.ru

Перейти на главную страницу

Поиск по ключевым словам:

страница 1
МИНИСТЕРСТВО оБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

Московский государственный институт электроники и математики

(Технический университет)

Кафедра “Электроника и электротехника”




КУРСОВАЯ РАБОТА

на тему


«Расчет характеристик ТТЛ транзистора со сложным инвертором»
по дисциплине «Электроника»

Вариант 64


Выполнил:


Христенко А.А.
Руководитель:
Самбурский Л.М.

Москва 2011


Задание





  1. Описать принцип работы схемы.

  2. Описать технологию изготовления схемы.

  3. Нарисовать структуру и топологию транзистора с размерами.

  4. Рассчитать параметры транзистора.

  5. Рассчитать параметры диодов и резисторов.

  6. С помощью программы SPISE рассчитать входные и выходные характеристики транзистора.

  7. Рассчитать входные и выходные характеристики с помощью формул.

  8. С помощью программы SPISE рассчитать передаточные характеристики схемы.

  9. С помощью программы SPISE рассчитать переходные характеристики схемы.

  10. По рассчитанным характеристикам определить основные параметры схемы.

    1. Логические уровни 0 и 1.

    2. Помехоустойчивость.

    3. Статическую потребляемую мощность.

    4. Фронты и задержки сигнала.

  11. Рассчитать параметры схемы по формулам.

  12. Нарисовать топологию схемы.

  13. Сравнить характеристики полученной схемы со стандартными аналогами.

d:\miem\4 sem\eie\безымянный.png

Исходные данные


Xjк

3*10-6

Глубина залегания p-n перехода база-коллектор, м

X

1,5*10-6

Глубина залегания эмиттерного p-n перехода, м

WБ

1,5*10-6

Xjк- Xjэ Толщина активной базы, м

Wэпи

10*10-6

Толщина эпитаксиального слоя, м

Xjn

6*10-6

Толщина скрытого n+ слоя, м

Nдэ(X)

5*1023

Концентрация донорной примеси в эмиттерной области: у эмиттерного перехода, м-3

Nдэ(0)

6*1026

Концентрация донорной примеси в эмиттерной области: на поверхности, м-3

Nаб(0)

7*1024

Поверхностная концентрация акцепторов в базе, м-3

Nдк(0)

9*1022

Концентрация донорной примеси в эпитаксиальной пленке коллектора, м-3

ρэпи

1*10-3

Удельное объемное сопротивление коллекторной области, Омм

ρБА

5*103

Удельное поверхностное сопротивление активной области базы (под эмиттером), Ом/□

ρБП

200

Удельное поверхностное сопротивление пассивной области базы (вне эмиттера), Ом/□

L

5*10-6

Диффузионная длина дырок в эмиттере, м

LnБ

5*10-6

Диффузионная длина электронов в базе, м

LpК

5*10-6

Диффузионная длина дырок в коллекторе, м

DnБ

2*10-3

Коэффициент диффузии электронов в базе, м2

DpК

1*10-3

Коэффициент диффузии дырок в коллекторе, м2

nj

1.5*1016 (Si)

1.5*1012 (GaAs)



Концентрация носителей зарядов в собственном полупроводнике, м-3

ε

12 (Si)

3.8 (SiO2)

11 (GaAs)


Относительная диэлектрическая проницаемость полупроводника, диэлектрика

q

1.6*10-19

заряд электрона, Кл

μn

8*10-2 (Si)

Подвижность электронов, м2/(Вс)

μp

7*10-2 (Si)

Подвижность дырок, м2/(Вс)

Δ

4*10-6

Минимальный размер, м



Принцип работы схемы


Пусть на один или два входа подан U0 – низкий потенциал, тогда соответственно эмиттер МЭТ (Т1) открыт, коллектор МЭТ открыт, потенциал базы транзистора Т2 низкий => Т2 – закрыт (в отсечке); ток эмиттера Т2 – близкий к нулю, потенциал базы Т4 низкий => Т4 – закрыт (в отсечке); потенциал коллектора Т2 (закрытого) – высокий, это потенциал базы Т3, он настолько большой, что открытый эмиттерный переход транзистора Т3 и диод Д, а так как Т4 закрыт, что на выходе высокий потенциал (близкий к Е) – U1.

Пусть на все входы подано высокое напряжение U1 (близкое к Е), тогда все эмиттерные переходы МЭТа Т1 закрыты, коллекторный переход открыт и ток через него течет в базу транзистора Т2, Т2 – в режиме насыщения Т4 – также в режиме насыщения: UK1 – UK2 = UD_ОТКР + UКЭ_НАС - UКЭ_НАС < 2UD_ОТКР, следовательно, эмиттерный переход Т3 и диод D отрыться не могут, значит они в отсечке.



Uвых1

Uвх2

Uвх3

Uвых

0

0

0

1

0

0

1

1

0

1

0

1

0

1

1

1

1

0

0

1

1

0

1

1

1

1

0

1

1

1

1

0

Для повышения помехоустойчивости схемы включают диод в базовую цепь транзистора Т4. Однако быстродействие схемы снижается, так как при выключении схемы диод запирается и препятствует вытеканию рассасывающего тока из базы насыщенного транзистора Т4. Для ускорения рассасывания избыточного заряда в транзисторе Т4 в схему включается резистор R4, который обеспечивает вытекание из базы Т4 тока. Сопротивление R4 нельзя выбирать малым, так как при этом снижается нагрузочная способность схемы. Поэтому время рассасывания больше, чем в схеме без диода. Увеличивается также время отпирания, так как схема имеет более высокий порог переключения и повышенное значение паразитной емкости Сп. Таким образом, быстродействие этой схемы оказывается существенно меньше, чем схемы без диода.

Структура и топология транзистора




d:\miem\без имени-3.jpg


Технология изготовления


Окисление.

d:\miem\all 1.jpg

Фотолитография под скрытый слой. Ионная имплантация.



d:\miem\all 2.jpg

Эпитаксиальное осаждение n-слоя, окисление.



d:\miem\all 3.jpg

Фотолитография по окислу, диффузия под рослой, разгонка p-слоя, окисление.



d:\miem\all 4.jpg

Фотолитография под p-слой, ионная имплантация p-слоя, окисление, разгонка p-слоя.



d:\miem\all 5.jpg

окисление, разгонка, фотолитография под эмиттер. Диффузия n-слоя, окисление, разгонка, фотолитография под контакты.



d:\miem\all 6.jpgd:\miem\all 8.jpgМеталлизация.

d:\miem\all 9.jpg

Фотолитография по металлу.



d:\miem\all 10.jpg

p

Расчет параметров элементов схемы.



3 эмиттера




1 эмиттер






  1. BF – коэффициент усиления тока базы в нормальном режиме.





  1. BR - коэффициент усиления тока базы в инверсном режиме.





Для 3х эмиттеров (М = 3)





Для 1го эмиттера (М = 1)








  1. IS – ток насыщения.

Для 3х эмиттеров


Для 1го эмиттера




  1. RB - сопротивление базы











Расчет характеристик ттл транзистора со сложным инвертором

С помощью программы spise рассчитать входные и выходные характеристики транзистора

93.08kb.

18 12 2014
1 стр.


Расчет характеристик ттл транзистора со сложным инвертором

С помощью программы spise рассчитать входные и выходные характеристики транзистора

63.67kb.

14 12 2014
1 стр.


Ттл со сложным инвертором

Окисление. Фотолитография под базу и эмиттер, диффузионное легирование n+ областей

24.61kb.

14 12 2014
1 стр.


Лабораторная работа №16 Характеристики и параметры биполярных транзисторов

Изучить свойства биполярного транзистора путем снятия входных и выходных характеристик

136.82kb.

14 10 2014
1 стр.


Практическая работа №1 «Расчет характеристик партий заказов»

Определение характеристик партий заказов с использованием данных о годовой потребности в заказываемых материалах, затратах на их поставку и

323.29kb.

25 09 2014
1 стр.


Отчет по лабораторной работе №1 Расчёт метрических характеристик качества разработки программ по метрикам Холстеда

Расчёт метрических характеристик качества разработки программ по метрикам Холстеда

248.56kb.

15 12 2014
1 стр.


Расчёт усилителя на биполярном транзисторе Расчетно-графическая работа по курсу электроники

Оценка предельных параметров работы транзистора: Uкэмах = 1,2 18= 21. 6 в Rк выбираем в 5 раз меньше Rн, где Rн из условия задания = 420 ом

21.03kb.

14 10 2014
1 стр.


Расчет тепловых характеристик блоков рэс при различных условиях охлаждения

Тема: "Расчет тепловых характеристик блоков рэс при различных условиях охлаждения"

22.95kb.

16 12 2014
1 стр.