МИНИСТЕРСТВО оБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Московский государственный институт электроники и математики
(Технический университет)
Кафедра “Электроника и электротехника”
КУРСОВАЯ РАБОТА
на тему
«Расчет характеристик ТТЛ транзистора со сложным инвертором»
по дисциплине «Электроника»
Вариант 64
Выполнил:
Христенко А.А.
Руководитель:
Самбурский Л.М.
Москва 2011
Задание
-
Описать принцип работы схемы.
-
Описать технологию изготовления схемы.
-
Нарисовать структуру и топологию транзистора с размерами.
-
Рассчитать параметры транзистора.
-
Рассчитать параметры диодов и резисторов.
-
С помощью программы SPISE рассчитать входные и выходные характеристики транзистора.
-
Рассчитать входные и выходные характеристики с помощью формул.
-
С помощью программы SPISE рассчитать передаточные характеристики схемы.
-
С помощью программы SPISE рассчитать переходные характеристики схемы.
-
По рассчитанным характеристикам определить основные параметры схемы.
-
Логические уровни 0 и 1.
-
Помехоустойчивость.
-
Статическую потребляемую мощность.
-
Фронты и задержки сигнала.
-
Рассчитать параметры схемы по формулам.
-
Нарисовать топологию схемы.
-
Сравнить характеристики полученной схемы со стандартными аналогами.
Исходные данные
Xjк
|
3*10-6
|
Глубина залегания p-n перехода база-коллектор, м
|
Xjэ
|
1,5*10-6
|
Глубина залегания эмиттерного p-n перехода, м
|
WБ
|
1,5*10-6
|
Xjк- Xjэ Толщина активной базы, м
|
Wэпи
|
10*10-6
|
Толщина эпитаксиального слоя, м
|
Xjn
|
6*10-6
|
Толщина скрытого n+ слоя, м
|
Nдэ(Xjэ)
|
5*1023
|
Концентрация донорной примеси в эмиттерной области: у эмиттерного перехода, м-3
|
Nдэ(0)
|
6*1026
|
Концентрация донорной примеси в эмиттерной области: на поверхности, м-3
|
Nаб(0)
|
7*1024
|
Поверхностная концентрация акцепторов в базе, м-3
|
Nдк(0)
|
9*1022
|
Концентрация донорной примеси в эпитаксиальной пленке коллектора, м-3
|
ρэпи
|
1*10-3
|
Удельное объемное сопротивление коллекторной области, Омм
|
ρБА
|
5*103
|
Удельное поверхностное сопротивление активной области базы (под эмиттером), Ом/□
|
ρБП
|
200
|
Удельное поверхностное сопротивление пассивной области базы (вне эмиттера), Ом/□
|
LpЭ
|
5*10-6
|
Диффузионная длина дырок в эмиттере, м
|
LnБ
|
5*10-6
|
Диффузионная длина электронов в базе, м
|
LpК
|
5*10-6
|
Диффузионная длина дырок в коллекторе, м
|
DnБ
|
2*10-3
|
Коэффициент диффузии электронов в базе, м2/с
|
DpК
|
1*10-3
|
Коэффициент диффузии дырок в коллекторе, м2/с
|
nj
|
1.5*1016 (Si)
1.5*1012 (GaAs)
|
Концентрация носителей зарядов в собственном полупроводнике, м-3
|
ε
|
12 (Si)
3.8 (SiO2)
11 (GaAs)
|
Относительная диэлектрическая проницаемость полупроводника, диэлектрика
|
q
|
1.6*10-19
|
заряд электрона, Кл
|
μn
|
8*10-2 (Si)
|
Подвижность электронов, м2/(Вс)
|
μp
|
7*10-2 (Si)
|
Подвижность дырок, м2/(Вс)
|
Δ
|
4*10-6
|
Минимальный размер, м
|
Принцип работы схемы
Пусть на один или два входа подан U0 – низкий потенциал, тогда соответственно эмиттер МЭТ (Т1) открыт, коллектор МЭТ открыт, потенциал базы транзистора Т2 низкий => Т2 – закрыт (в отсечке); ток эмиттера Т2 – близкий к нулю, потенциал базы Т4 низкий => Т4 – закрыт (в отсечке); потенциал коллектора Т2 (закрытого) – высокий, это потенциал базы Т3, он настолько большой, что открытый эмиттерный переход транзистора Т3 и диод Д, а так как Т4 закрыт, что на выходе высокий потенциал (близкий к Е) – U1.
Пусть на все входы подано высокое напряжение U1 (близкое к Е), тогда все эмиттерные переходы МЭТа Т1 закрыты, коллекторный переход открыт и ток через него течет в базу транзистора Т2, Т2 – в режиме насыщения Т4 – также в режиме насыщения: UK1 – UK2 = UD_ОТКР + UКЭ_НАС - UКЭ_НАС < 2UD_ОТКР, следовательно, эмиттерный переход Т3 и диод D отрыться не могут, значит они в отсечке.
Uвых1
|
Uвх2
|
Uвх3
|
Uвых
|
0
|
0
|
0
|
1
|
0
|
0
|
1
|
1
|
0
|
1
|
0
|
1
|
0
|
1
|
1
|
1
|
1
|
0
|
0
|
1
|
1
|
0
|
1
|
1
|
1
|
1
|
0
|
1
|
1
|
1
|
1
|
0
|
Для повышения помехоустойчивости схемы включают диод в базовую цепь транзистора Т4. Однако быстродействие схемы снижается, так как при выключении схемы диод запирается и препятствует вытеканию рассасывающего тока из базы насыщенного транзистора Т4. Для ускорения рассасывания избыточного заряда в транзисторе Т4 в схему включается резистор R4, который обеспечивает вытекание из базы Т4 тока. Сопротивление R4 нельзя выбирать малым, так как при этом снижается нагрузочная способность схемы. Поэтому время рассасывания больше, чем в схеме без диода. Увеличивается также время отпирания, так как схема имеет более высокий порог переключения и повышенное значение паразитной емкости Сп. Таким образом, быстродействие этой схемы оказывается существенно меньше, чем схемы без диода.
Структура и топология транзистора
Технология изготовления
Окисление.
Фотолитография под скрытый слой. Ионная имплантация.
Эпитаксиальное осаждение n-слоя, окисление.
Фотолитография по окислу, диффузия под рослой, разгонка p-слоя, окисление.
Фотолитография под p-слой, ионная имплантация p-слоя, окисление, разгонка p-слоя.
окисление, разгонка, фотолитография под эмиттер. Диффузия n-слоя, окисление, разгонка, фотолитография под контакты.


Металлизация.
Фотолитография по металлу.
p
Расчет параметров элементов схемы.
3 эмиттера
1 эмиттер
-
BF – коэффициент усиления тока базы в нормальном режиме.
-
BR - коэффициент усиления тока базы в инверсном режиме.
Для 3х эмиттеров (М = 3)
Для 1го эмиттера (М = 1)
-
IS – ток насыщения.
Для 3х эмиттеров
Для 1го эмиттера
-
RB - сопротивление базы